上平 實驗室機械光學分析天平產品特點：
1.外觀設計：流線體外觀設計，使用品質金屬材質外殼，通透三開玻璃移門，美觀，方便，耐用
2.下稱量掛鉤：暗感式下稱量掛鉤，測量特殊物體、磁性物體等
3.數據接口：標準RS232接口，鏈接電腦、打印機等設備，輕松辦公
4.超載保護秤盤：錐形秤盤帶有單獨可拆卸防風圈，過載保護秤盤，保護天平不因稱量超載而損壞天平

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